光(guang)纖(xian)接入(ru)技術(shu)與其他接(jie)入技術(如(ru)銅雙絞線、同(tong)軸(zhou)電纜(lan))相比,有很大的(de)優勢,包括(kuo):可用(yong)帶寬(kuan)大、傳(chuan)輸質(zhi)量好、傳輸距離(li)長、抗(kang)幹擾(rao)能力強、網(wang)絡可靠性(xing)高、節(jie)約(yue)管道資源等(deng),而(er)且(qie)不會(hui)相互(hu)幹擾(rao),即使(shi)是同一根光纜(lan)中的光纖(xian)。但一(yi)條完(wan)整(zheng)的(de)光纖(xian)鏈路(lu)的(de)性(xing)能不(bu)僅取(qu)決(jue)于光纖(xian)本身的質量,還取決(jue)于(yu)連(lian)接頭(tou)的質量、施(shi)工工(gong)藝和(he)現(xian)場環境(jing),所以(yi)光纖(xian)鏈路(lu)的現(xian)場測試至(zhi)關重要。
(1)光纖鏈(lian)路損耗(hao)預(yu)算:光(guang)纖鏈(lian)路損耗預(yu)算是(shi)網絡(luo)和應(ying)用中(zhong)允許的最(zui)大信号損失量(liang),這個(ge)值是根據(ju)網絡實際(ji)情況(kuang)和國(guo)際(ji)标(biao)準規(gui)定的損失(shi)量計(ji)算出(chu)來的(de)。參見(jian)應用标準(zhun)或根(gen)據一(yi)條完(wan)整的(de)光纖鏈路(lu)包括光纖(xian)、連(lian)接器和(he)熔接點(dian)計算得(de)出。如(ru)單模光纖(xian)鏈路用于(yu)1000 BASE-LX,它就要求(qiu):損耗< 4.7dB,長度(du) < 5km。
(2)光鏈路(lu)損(sun)耗測試:就是(shi)用光源(yuan)和光功(gong)率(lü)計進(jin)行衰(shuai)減(jian)測試。衰(shuai)減是光纖鏈路(lu)的一個重要的(de)傳輸參數,它的(de)單位(wei)是分貝(dB)。衰(shuai)減越大,光信号傳輸距離就越(yue)短。
(3)通過/失(shi)敗的(de)判定(ding):通過前面(mian)的鏈路損(sun)耗的(de)預算(suan)和測(ce)試,當(dang)測試出的(de)損耗(hao)值大于預算值(zhi)時,則認(ren)爲這條(tiao)鏈路(lu)光學上是(shi)不連通的。這時候就(jiu)需要OTDR來進(jin)行更深入的故障定(ding)位,檢(jian)查出(chu)光纖鏈(lian)路(lu)損耗超過(guo)預(yu)算值的(de)原因,如(ru)在前方(fang)1000米處(chu)有(you)個熔接(jie)點,該(gai)接點(dian)熔接質量(liang)很差,超過(guo)了2dB。通(tong)過OTDR您(nin)可詳(xiang)細地(di)定位(wei)到全(quan)部連(lian)接不(bu)好的适配(pei)器、熔(rong)接點(dian)等,以(yi)及光纖的斷點(dian)和末(mo)端等(deng)。OTDR還可幫(bang)您進行(hang)文檔備案,爲日(ri)後維(wei)護提供方便。
(4)設(she)備發(fa)送功(gong)率的(de)測試(shi):通過(guo)光功(gong)率(lü)計(ji)測試(shi)發射(she)機輸(shu)出端(duan)口的(de)平均(jun)功率(lü),檢查其(qi)是否滿(man)足所要求的指(zhi)标。測試(shi)時(shi)要将(jiang)光功(gong)率計設置(zhi)在被測光(guang)波長(zhang)上,待(dai)輸(shu)出功率(lü)穩定(ding),從光功率(lü)計讀(du)出(chu)平均發(fa)送功率。測(ce)試時(shi)要注意清潔設(she)備和儀器的光(guang)連接(jie)器及(ji)跳線(xian)等,并保(bao)證(zheng)連接良好(hao)。并通過多(duo)次測試(shi)取(qu)平均值爲(wei)準。
(5)設備接(jie)收靈(ling)敏度(du)的測(ce)試:通過(guo)光功率(lü)計、光可(ke)變(bian)衰減(jian)器、誤(wu)碼儀或設(she)備告警系統進(jin)行設(she)備接收靈(ling)敏度(du)的(de)測試。